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Ein Beitrag zur quantitativen Auswertung von Reflexionselektronenbeugungsdiagrammen dünner, texturierter Schichten mit Hilfe photographischer Äquidensiten
Author(s) -
Schützler H.P.,
Pätz W.
Publication year - 1974
Publication title -
kristall und technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0023-4753
DOI - 10.1002/crat.19740090204
Subject(s) - materials science , physics
Es wird die Kristallitverkippung von texturierten dünnen Schichten quantitativ aus Reflexionselektronenbeugungsdiagrammen bestimmt. Dazu wird die Methode der photographischen Äquidensitometrie verwendet.