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Zum Bildkontrast kristalliner Objekte in der Rasterelektronenmikroskopie
Author(s) -
Werner U.,
Bethge H.,
Heydenreich J.
Publication year - 1974
Publication title -
kristall und technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0023-4753
DOI - 10.1002/crat.19740090202
Subject(s) - philosophy , chemistry
Die von C OATES gefundenen und von B OOKER , S HAW , W HELAN , H IRSCH erstmalig interpretierten Elektronen‐Channelling‐Diagramme werden in der Rasterelektronenmikroskopie in zunehmendem Maße zur Charakterisierung der Orientierung und der Perfektion von Kristalloberflächen herangezogen. Dieser Einsatzbereich der Rasterelektronenmikroskopie wird erläutert und an Bildbeispielen belegt, wobei der Frage der Zuordnung von Elektronen‐Channelling‐Diagrammen zu der zugrunde liegenden Realstruktur in oberflächennahen Objektbereichen besondere Beachtung geschenkt wird. Die Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie für die Abbildung individueller Kristalldefekte werden angegeben.