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Dynamik der Phasengrenze beim Ziehen von Kupfereinkristallen aus der Schmelze
Author(s) -
Wenzl H.,
Uelhoff W.
Publication year - 1973
Publication title -
kristall und technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0023-4753
DOI - 10.1002/crat.19730081105
Subject(s) - philosophy , physics
Untersucht wurde die Höhe der Phasengrenzfläche beim Ziehen von Kupfereinkristallen aus der Schmelze als Funktion der Schmelzentemperatur und nach sprunghafter Änderung der Ziehgeschwindigkeit und der Temperatur. Die Phasengrenze erreichte nach einer Änderung der Parameter stets eine neue stabile Lage mit Zeit konstanten zwischen 20 und 120 s. Das Verhalten kann mit einem Modell für die Wärmebilanz an der Phasengrenze beschrieben werden. Der Temperaturgradient in der Schmelze unterhalb der Phasengrenze beträgt danach 17 gr · cm −1 im Vakuum und 50 grd · cm −1 bei 760 Torr Wasserstoff.