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Emissionsmikroskopische Untersuchungen zur Änderung der Sekundärelektronenemission bei der plastischen Verformung
Author(s) -
Wetzig K.,
Reichelt R.
Publication year - 1972
Publication title -
kristall und technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0023-4753
DOI - 10.1002/crat.19720070708
Subject(s) - physics
Abstract Bei der plastischen Verformung polykristalliner Proben im Sekundärelektronen‐Emissionsmikroskop nehmen im normalen Hochvakuum sowohl der elektronenoptische Bildkontrast als auch die Elektronenstromdichten aller Kristallite ab. Dabei sollen die Temperatur so hoch und der Restgasdruck so niedrig sein, daß die Sekundärelektronenausbeute bei Veränderung dieser Größen konstant bleibt. Im rekristallisierten Zustand nehmen die Kristallite, deren Orientierung erhalten geblieben ist, wieder ihre ursprünglichen Stromdichtewerte an. Aus den Ergebnissen kann auf einen Zusammenhang zwischen Sekundärelektronenausbeute und Kristallperfektion geschlossen werden. Für diesen Zusammenhang wird eine qualitative Erklärung versucht.