Exact Particle Size and Shape Analysis in One Instrument: Combination of Static Light Scattering and Dynamic Image Analysis

Bei der Bestimmung der Partikelgrößenverteilung wird häufig Laserbeugung eingesetzt. Neben den vielen Vorteilen dieser Methode, wie kurze Messdauer und breiter Messbereich, gibt es jedoch auch Schwächen. So zeigen sich besonders bei sehr breiten Verteilungen signifikante, statistische Ungenauigkeiten. Mit dem Bettersizer S3 Plus konnte erstmals gleichzeitig die Partikelgrößenverteilung von Nanometer‐, Mikrometer‐ und Millimeterteilchen exakt bestimmt und Einzelteilcheninformationen über das Überkorn und Agglomerationsphänomene gewonnen werden. Die Vorteile der Kombination von statischer Lichtstreuung mit dynamischer Bildanalyse werden anhand eines Beispiels demonstriert.