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Applicability of the Laser Backscattering Instruments FBRM and 3D ORM SMF in Batch Crystallizations
Author(s) -
Peda Stefan,
Bröckel Ulrich,
Ay Peter,
Stollberg Christian
Publication year - 2011
Publication title -
chemie ingenieur technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.365
H-Index - 36
eISSN - 1522-2640
pISSN - 0009-286X
DOI - 10.1002/cite.201000127
Subject(s) - reflectivity , laser beams , optics , chemistry , laser , materials science , physics
Zur Steuerung von Batch‐Kristallisationen ist die Kenntnis der zeitabhängigen Größenverhältnisse in gerührten Systemen von entscheidender Bedeutung. Mit dem Grundgedanken der Echtzeitanalyse von Kristallisationskinetiken wird in diesem Beitrag am Beispiel eines inerten, partikulären Modellstoffsystems die mögliche Anwendung der In‐situ‐Lasermessverfahren Focused Beam Reflectance Measurement (FBRM) und 3‐Fold Dynamical Optical Reflectance Measurement with Selective Multi Depth Focus (3D ORM SMF) in Batch‐Kristallisationen näher untersucht. Die unterschiedliche, gerätespezifische Darstellung des verwendeten Modellstoffsystems wird nachgewiesen.