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Phase‐contrast Atomic Force Microscopy for the Characterization of the Distribution of Nanoparticles in Composite Materials
Author(s) -
Rudolph M.,
Bauer K.,
Peuker U. A.
Publication year - 2010
Publication title -
chemie ingenieur technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.365
H-Index - 36
eISSN - 1522-2640
pISSN - 0009-286X
DOI - 10.1002/cite.201000090
Subject(s) - atomic force microscopy , phase contrast microscopy , materials science , nanoparticle , characterization (materials science) , composite number , analytical chemistry (journal) , nanotechnology , chemistry , physics , optics , composite material , chromatography
Für die Analyse partikulärer Medien und disperser Systeme bietet die Rasterkraftmikroskopie vielfältige Möglichkeiten. Die Phasenkontrast‐Rasterkraftmikroskopie wurde für die Dispersitätsanalyse untersucht. Eine Möglichkeit der Analyse von Nanopartikel‐Kompositproben bezüglich der Vereinzelung und Verteilung der Partikel innerhalb einer Polymermatrix wird präsentiert. Zur quantitativen Dispersitätscharakterisierung wird ein möglicher Auswertungsablauf vorgestellt.