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Use of In Situ Atomic Force Microscopy to Follow Phase Changes at Crystal Surfaces in Real Time
Author(s) -
Thakuria Ranjit,
Eddleston Mark D.,
Chow Ernest H. H.,
Lloyd Gareth O.,
Aldous Barry J.,
Krzyzaniak Joseph F.,
Bond Andrew D.,
Jones William
Publication year - 2013
Publication title -
angewandte chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3757
pISSN - 0044-8249
DOI - 10.1002/ange.201302532
Subject(s) - atomic force microscopy , crystallography , in situ , chemistry , crystal (programming language) , phase (matter) , nanotechnology , materials science , organic chemistry , computer science , programming language
AFM an Cokristallen : Mit Rasterkraftmikroskopie können Phasenänderungen an Kristalloberflächen beobachtet werden, bei denen die Transformation mit einer Änderung im Abstand der Molekülschichten einhergeht (siehe Bild). Die Umwandlung eines metastabilen Polymorphs des Koffein‐Glutarsäure‐Cokristalls in die thermodynamisch stabile Form wurde mit Rasterkraftmikroskopie im intermittierenden Kontaktmodus untersucht.