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Probing the Charge Build‐Up and Dissipation on Thin PMMA Film Surfaces at the Molecular Level by XPS
Author(s) -
Yilmaz Eda,
Sezen Hikmet,
Suzer Sefik
Publication year - 2012
Publication title -
angewandte chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3757
pISSN - 0044-8249
DOI - 10.1002/ange.201201351
Subject(s) - x ray photoelectron spectroscopy , thin film , dissipation , materials science , chemistry , physics , chemical engineering , nanotechnology , engineering , thermodynamics
Wie ist die Ladung? Röntgenphotoelektronenspektroskopie wurde genutzt, um den Ladungszustand und die Dynamik des Ladungsaufbaus und ‐abbaus auf einem dünnen Polymethylmethacrylat‐Film zu bestimmen. Der Film ist zunächst negativ mit ungefähr −2 V geladen und lädt sich während der XPS‐Analyse allmählich positiv auf.