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Aktivierungsenergien für die Diffusion von Defekten in Silicium: die Rolle des Austauschkorrelationsfunktionals
Author(s) -
Estreicher Stefan K.,
Backlund Daniel J.,
Carbogno Christian,
Scheffler Matthias
Publication year - 2011
Publication title -
angewandte chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3757
pISSN - 0044-8249
DOI - 10.1002/ange.201100733
Subject(s) - chemistry , physics
Mit DFT‐Rechnungen wurden die Aktivierungsenergien E a für die Diffusion von Defekten in Si (blau im Bild) ermittelt (von links nach rechts: Diffusion von O i 0 (rot)). Die mit vier Austauschkorrelationsfunktionalen E x c berechneten E a ‐Werte wurden mit experimentellen Daten verglichen. Die E a ‐Werte der „atomähnlichen“ Defekte auf Zwischengitterplätzen sind meist unabhängig von E xc  , im Unterschied zu stark gebundenen Verunreinigungen. Die besten Werte liefert das RPBE‐Funktional.

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