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Imaging MoS 2 Nanocatalysts with Single‐Atom Sensitivity
Author(s) -
Kisielowski Christian,
Ramasse Quentin M.,
Hansen Lars P.,
Brorson Michael,
Carlsson Anna,
Molenbroek Alfons M.,
Topsøe Henrik,
Helveg Stig
Publication year - 2010
Publication title -
angewandte chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3757
pISSN - 0044-8249
DOI - 10.1002/ange.200906752
Subject(s) - physics , chemistry
Nahaufnahme : Die Anordnung der Atome in industriell genutzten MoS 2 ‐Nanokatalysatoren kann elektronenmikroskopisch analysiert werden (siehe Bild). Die vorgestellte Technik erreicht eine Auflösung einzelner Atome und liefert Ergebnisse, die hervorragend mit den Resultaten aus Simulationen übereinstimmen. Ferner lassen sich Elemente in Verbindungen detektieren und Konzentrationen von Kantenplätzen abschätzen, die für Katalysen von Bedeutung sind.