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Direct Evidence of High Spatial Localization of Hot Spots in Surface‐Enhanced Raman Scattering
Author(s) -
Chen Chang,
Hutchison James Andell,
Clemente Francesca,
Kox Ronald,
UjiI Hiroshi,
Hofkens Johan,
Lagae Liesbet,
Maes Guido,
Borghs Gustaaf,
Van Dorpe Pol
Publication year - 2009
Publication title -
angewandte chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3757
pISSN - 0044-8249
DOI - 10.1002/ange.200905389
Subject(s) - raman scattering , chemistry , hot spot (computer programming) , raman spectroscopy , physics , optics , computer science , operating system
Heiß oder kalt : Die hohe Lokalisierung in SERS‐Hotspots lässt sich direkt anhand der selektiven Ablagerung von Raman‐Analyten innerhalb und außerhalb von Regionen mit verstärktem Feld in einem Spalt zeigen (siehe Bild). Dies bestätigen Messungen der absoluten SERS‐Intensitäten ebenso wie kinetische Studien zum lichtinduzierten Abbau an unterschiedlichen Stellen.