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Spectroscopy and High‐Resolution Microscopy of Single Nanocrystals by a Focused Ion Beam Registration Method
Author(s) -
Novo Carolina,
Funston Alison M.,
PastorizaSantos Isabel,
LizMarzán Luis M.,
Mulvaney Paul
Publication year - 2007
Publication title -
angewandte chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3757
pISSN - 0044-8249
DOI - 10.1002/ange.200700033
Subject(s) - resolution (logic) , high resolution , microscopy , spectroscopy , analytical chemistry (journal) , materials science , chemistry , nanotechnology , optics , physics , chromatography , computer science , remote sensing , quantum mechanics , geology , artificial intelligence
Aussagekräftig : Die Bestimmung der genauen Größe und Form eines Nanopartikels ist für den direkten Vergleich experimenteller Befunde mit theoretischen Vorhersagen essenziell. Der Einsatz einer Methode mit fokussiertem Ionenstrahl ermöglicht die routinemäßige Durchführung spektroskopischer und hochauflösender mikroskopischer Experimente am selben Nanopartikel (siehe Bild).