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Aberration‐Corrected Imaging of Active Sites on Industrial Catalyst Nanoparticles
Author(s) -
Gontard Lionel Cervera,
Chang LanYun,
Hetherington Crispin J. D.,
Kirkland Angus I.,
Ozkaya Dogan,
DuninBorkowski Rafal E.
Publication year - 2007
Publication title -
angewandte chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3757
pISSN - 0044-8249
DOI - 10.1002/ange.200604811
Subject(s) - nanoparticle , nanotechnology , chemistry , materials science
Bildhübsche Bilder : Informationen zur Umgebung aktiver Zentren auf käuflichen Nanopartikeln werden auf atomarer Ebene durch Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) mit Korrektur für die sphärische Aberration erhalten. Pt‐Nanopartikel‐Pulver auf Kohle wurde mit zwei TEM‐Techniken untersucht, die jüngste Entwicklungen bei Hardware und Rechenverfahren nutzen.
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