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Molecular {(SnO) 6 } Trapped by Two {R 2 Si 2 O 3 } Fragments: X‐ray Single‐Crystal Structure of [(SnO) 6 (R 2 Si 2 O 3 ) 2 ]
Author(s) -
Nehete Umesh N.,
Chandrasekhar Vadapalli,
Anantharaman Ganapathi,
Roesky Herbert W.,
Vidovic Denis,
Magull Jörg
Publication year - 2004
Publication title -
angewandte chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3757
pISSN - 0044-8249
DOI - 10.1002/ange.200454149
Subject(s) - crystallography , crystal structure , x ray crystallography , x ray , materials science , chemistry , diffraction , physics , optics
Ein Hexazinn( II )‐Käfig mit Siloxanliganden entsteht bei der Zugabe von [Sn{N(SiMe 3 ) 2 } 2 ] zu einer Suspension von RSi(OH) 3 in Hexan/THF (siehe Schema). Die Röntgenstrukturanalyse von Verbindung 1 zeigt ein zentrales {(SnO) 6 }‐Motiv, das von zwei äußeren {R 2 Si 2 O 3 }‐Siloxanliganden umschlossen wird.
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