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Durch Rasterkraftmikroskopie atomar aufgelöste Struktur an den Bruchflächen eines Ba/Si/O/C‐Glases
Author(s) -
Lansmann Volker,
Jansen Martin,
Raberg Wolfgang,
Wandelt Klaus
Publication year - 1997
Publication title -
angewandte chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3757
pISSN - 0044-8249
DOI - 10.1002/ange.19971092327
Subject(s) - physics , humanities , chemistry , philosophy
Keine periodischen Strukturen treten der topographischen Rasterkraftmikroskopie‐Direktabbildung (siehe rechts) zufolge in der Bruchfläche eines Ba/Si/O/C‐Glases auf. Die vorgestellten Ergebnisse verdeutlichen das enorme Potential der noch jungen Methode zur Ermittlung von charakteristischen Strukturelementen in Festkörpern ohne Translationssymmetrie.