Darstellung und transmissionselektronen‐mikroskopische Untersuchung von Bi(Pb)‐Sr‐Ca‐Cu‐O‐Supraleitern

Durch einen hohen Anteil an Baufehlern , z. B. durch wechselnde Schichtabfolgen, sind die Realstrukturen der (BiO) 2 Sr 2 Ca n ‐1 Cu n O 2 n +2 ‐Supraleiter gekennzeichnet, wie hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Aufnahmen zeigen. Art und Umfang der Defekte können sich bei den einzelnen Ansätzen erheblich unterscheiden, so daß die Schwierigkeit, reproduzierbare Probeneigenschaften zu erhalten, verständlich wird.