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Strukturelle Charakterisierung von kolloidalem Platin durch hochauflösende Elektronenmikroskopie und EXAFS‐Analyse
Author(s) -
Duff Daniel G.,
Edwards Peter P.,
Evans John,
Gauntlett J. Trevor,
Jefferson David A.,
Johnson Brian F. G.,
Kirkland Angus I.,
Smith David J.
Publication year - 1989
Publication title -
angewandte chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3757
pISSN - 0044-8249
DOI - 10.1002/ange.19891010510
Subject(s) - chemistry , materials science
Die genaue Bestimmung von Gitterparametern kleiner kolloidaler Pt‐Teilchen in Lösung gelingt durch EXAFS‐Analyse. So konnte nachgewiesen werden, daß beim Übergang vom Metall zum Kolloidzustand eine Gitterkontraktion (0.4%) stattfindet. Die Ergebnisse der EXAFS‐Untersuchungen ergänzen die durch hochauflösende Elektronenmikroskopie (HREM) erhaltenen. Die Abbildung rechts zeigt eine typische HREM‐Aufnahme eines Kolloidteilchens.