Über die Halbleitereigenschaften des Kupferoxyduls. XVI. Kennlinie und Kapazität von Kupferoxydul‐Gleichrichtern

An polykristallinen Kupferoxydul‐Gleichrichtern wurden statische Kennlinie und Kapazität in Abhängigkeit von Meßtemperatur, Herstellungsbedingungen und Alterung gemessen. In Durchlaßrichtung werden die Kennlinien mit theoretischen Ansätzen verglichen. Der Faktor \documentclass{article}\pagestyle{empty}\begin{document}$ (\exp e_0 U/xkT) - 1 $\end{document} (A) ergab x = 1,3 für den normalen Kupferoxydul‐Gleichrichter aus CCC‐Kupfer und x = 2 für die Gleichrichter aus vorher geglühtem Kupfer. Zwischen Nullwiderstand R 0 und Schleusenspannung U s besteht der Zusammenhang \documentclass{article}\pagestyle{empty}\begin{document}$ R_0 \sim \exp \,e_0 U/xkT $\end{document} (B) Für normale Gleichrichter fand sich x zu etwa 1,6 und zu etwa 2,8 bei Gleichrichtern aus vorher geglühtem Kupfer. Bei ungealterten Gleichrichtern war x größer. Aus den Kapazitätmessungen folgte \documentclass{article}\pagestyle{empty}\begin{document}$ 1/C^2 \sim (U_8 - U/x), $\end{document} (C) wo x für den Kupferoxydul‐Gleichrichter 2 bis 3 betrug. Die bei den verschiedenen Messungen definierten x werden unterschiedlich für den gleichen Gleichrichter gefunden. Relativ klein ist x , wenn ein Durchlaßstrom fließt, also bei Messungen nach der Formel (A). Bei Messungen praktisch ohne Vorspannung wird ein mittlerer Wert mit Formel (B) gefunden. Ein größeres x findet man bei Messungen mit anliegender Sperrspannung, nach Formel (C). Mit der Sperrschichtdicke wird also x größer. Das Auftreten des Faktors x wird dadurch erklärt, daß nur 1/ x der anliegenden Spannung für den Auf‐oder Abbau der Sperrschicht wirksam wird, weil Rekombinationen in der Sperrschicht für x > 1 stattfinden.