Feldemission aus dünnen halbleitenden Schichten auf Metallen

Mit Hilfe des Feldemissionsmikroskops wurden die Emissionseigenschaften mehrerer Einkristallflächen eines Wolframemitters in Abhängigkeit von der Dicke der aufgebrachten Siliziumschichten untersucht. Die erhaltenen experimentellen Strom–Spannungs‐Kennlinien werden mit theoretisch berechneten verglichen, die sich unter der Annahme eines einfachen energetischen Modells für das System Metall–Halbleiterschicht–Vakuum ergeben. Die Übereinstimmung zwischen Theorie und Experiment ist gut, des weiteren lassen sich früher gefundene Ergebnisse zur Energieverteilung der emittierten Elektronen qualitativ deuten.