Über die Schwärzung von AGFA‐Schumann‐ und Q 2 ‐Platten durch Ionen verschiedener Massen von 2,5–20 keV Energie

Nach einer Zusammenfassung der wichtigsten bisher in der Literatur vorliegenden Ergebnisse werden absolute Schwärzungskurven vorgelegt, die im Massenspektrographen durch Bestrahlung von AGFA‐Schumann‐ und Q 2 ‐Platten mit H‐, N‐, Ne‐, Kr‐, Xe‐ und Hg‐Ionen im Bereich von 2,5 bis 20 keV Energie gewonnen wurden. Die theoretische Untersuchung der gefundenen Kurvenformen zeigt, daß oberhalb einer für jedes Ion charakteristischen Grenzenergie die Schwärzung im wesentlichen im Eintrefferprozeß, unterhalb dieser Energie jedoch zunehmend im Mehrtrefferprozeß erfolgt. Es wird daraus gefolgert, daß das Reziprozitätsgesetz nicht nur im Eintreffergebiet, sondern bis weit im Mehrtreffergebiet gültig sein muß. Für die Energie‐ und Massenabhängigkeit der Schwärzung werden für beide Plattensorten Kurven angegeben und empirische Formeln vorgeschlagen.