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Dielektrische Eigenschaften von Halbleitern
Author(s) -
Rabenhorst H.,
Raab J.
Publication year - 1959
Publication title -
annalen der physik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 1.009
H-Index - 68
eISSN - 1521-3889
pISSN - 0003-3804
DOI - 10.1002/andp.19594590603
Subject(s) - germanium , materials science , maxima , semiconductor materials , semiconductor , chemistry , optoelectronics , silicon , art , performance art , art history
Es werden die dielektrischen Eigenschaften von polykristallinem Selen, sowie von Germanium‐ und Siliziumeinkristallen in einem Meßkondensator zwischen 100 kHz und 400 kHz in Abhängigkeit von der Temperatur gemessen. Die von M. R. Freymann und Mitarbeitern an Selen und anderen elektronischen Halbleitern bei bestimmten Temperaturen und Frequenzen beobachteten Maxima des Verlustwinkels werden an Selen und Silizium ebenfalls festgestellt. Es wird aber gezeigt, daß diese Maxima keine Volumeneigenschaften der Halbleiter sind, sondern durch Kontakte an der Oberfläche des Halbleiters bedingt sind.