Über die Halbleitereigenschaften des Kupferoxyduls. XII Die Leitfähigkeit des Kupferoxyduls innerhalb des Existenzgebietes bei hohen Temperaturen im Bereich kleiner Drucke

Es wird gezeigt, daß der bisher bei Sauerstoffdrucken < 10 −2 Torr gefundene starke Abfall der elektrischen Leitfähigkeit des Kupferoxyduls im Gebiet von 700–1000° C auf fehlerhaften Messungen beruht. Unter Ausschaltung des Fehlers wird im gesamten untersuchten Gebiet die Gesetzmäßigkeit\documentclass{article}\pagestyle{empty}\begin{document}$$ \chi \sim p_{o_2 }^{1/n} $$\end{document}mit n ≈ 8 bestätigt und die Austrittsarbeit zu 1,30 eV (0,65 eV) bestimmt. Eine Diskussion des Knudsen‐Effektes in Bezug auf diese Messungen zeigt, daß er ent gegen den bisherigen Betrachtungen keine Meßwertverfälschung bedingt. Die Existenzgrenze Cu 2 O/CuO wird nochmals bestimmt.