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Leitfähigkeits‐Messungen an hochgereinigtem Selen
Author(s) -
Eckart F.
Publication year - 1956
Publication title -
annalen der physik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 1.009
H-Index - 68
eISSN - 1521-3889
pISSN - 0003-3804
DOI - 10.1002/andp.19564520204
Subject(s) - chemistry , physics , medicinal chemistry
An hochgereinigtem Selen wird nach mehrfachem Umschmelzen im Hochvakuum das Leitfähigkeits‐Temperaturverhalten untersucht. Dieses Verhalten hängt wesentlich von dieser Vorbehandlung ab. Nach mehrmaligem Umschmelzen werden im Temperaturbereich von + 18°C bis + 40°C (log σ, 1/ T )‐Geraden ermittelt, aus deren Neigungen sich Werte für die Aktivierungsenergie von 1,2 bis 1,6 eV ergeben. Nach einer Temperbehandlung an Luft steigt die Leitfähigkeit um etwa 6 Größenordnungen an, wobei sich aus dem linearen Verlauf von (log σ, 1/ T ) im Temperaturbereich von Zimmertemperatur bis unmittelbar vor dem Schmelzpunkt je nach Temperzeit ε Werte von 0,19 eV bis 0,14 eV ergeben. Eine endgültige Klärung ist nur aus Leitfähigkeits‐ und Hall‐Effekts‐ bzw. Thermospannungs‐Messungen bei gleichzeitiger Bestimmung des Fehlordnungsgrades aus Strukturuntersuchungen möglich.