Über Flächengitterwirkungen bei Elektronenbeugungs‐ Untersuchungen an verschiedenen Metallschichten

Die von Cochrane erstmalig beobachteten Linien auf Elektronenbeugungsdiagrammen metallischer Präparate werden gedeutet als Auswirkung einer Intensitätsbelegung der Raumdiagonalen des reziproken Gitters, verursacht durch eine häufig wiederholte Zwillingsbildung nach (111). Auf diese Zwillingsbildung zurückgeführt wird auch das Auftreten von Interferenzpunkten, die Gitterlamellen von hexagonaler dichtester Kugelpackung zwischen den verzwillingten Kristalliten zugeschrieben werden. Das Auftreten von Interferenzpunkten, die verschiedenen Kristallorientierungen zuzuordnen sind, auf ein und derselben Beugungsaufnahme kann erklärt werden durch Annahme einer Abweichung vom Braggschen Reflexionsgesetz oder einer Gitterverwackelung. Für und Wider beider Möglichkeiten wird erörtert. Intensitätsbelegung der Raumdiagonalen des reziproken Gitters führt bei gleichzeitiger Gitterverwackelung zur Bildung girlandenförmiger Linienzüge, die an verschiedenen Aufnahmen gezeigt und mit den auf theoretischem Wege gefundenen Kurven verglichen werden. Die entwickelten Anschauungen gestatten die Interpretation der eigenen sowie einiger bisher nicht gedeuteter fremder Aufnahmen.