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Über die Halbleitereigenschaften des Kupferoxyduls. VIII. Die elektrische Leitfähigkeit bei 0° C als Funktion des Ortes innerhalb der Probe
Author(s) -
Fritzsche C.
Publication year - 1954
Publication title -
annalen der physik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 1.009
H-Index - 68
eISSN - 1521-3889
pISSN - 0003-3804
DOI - 10.1002/andp.19544490305
Subject(s) - physics
Bei 960° C und bei verschiedenen Sauerstoffdrucken getempertes und anschließend rasch auf Zimmertemperatur abgekühltes Kupferoxydul hat in der Oberflächenschicht eine geringere elektrische Leitfähigkeit als im Innern. Es wird gezeigt, daß diese Leitfähigkeitsschichtung durch den Abkühlungsprozeß verursacht wird. Auf die Bedeutung dieser Beobachtung für die Beurteilung anderer Versuchsergebnisse wird hingewiesen.

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