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Über die Halbleitereigenschaften des Kupferoxyduls. VI. Die Temperaturabhängigkeit der elektrischen Leitfähigkeit bei Temperaturen zwischen + 20° C und −190° C
Author(s) -
Blankenburg G.,
Schubart G.
Publication year - 1953
Publication title -
annalen der physik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 1.009
H-Index - 68
eISSN - 1521-3889
pISSN - 0003-3804
DOI - 10.1002/andp.19534470410
Subject(s) - physics
Wenn der Logarithmus der Leitfähigkeit von Cu 2 O über der reziproken absoluten Temperatur (+20° C bis −190° C) aufgetragen wird, erhält man eine Abhängigkeit, die am besten durch Aneinanderreihen von Geradenstücken interpoliert werden kann. Die Temperaturen bei denen die Knicke, an denen diese Geradenstücke zusammengesetzt sind, auftreten, zeigen gewisse Beziehungen zur Vorbehandlung der Probe. An einem Teil der Ergebnisse läßt sich zeigen, wie die „Ablösearbeiten” c und die Werte für χ 0 von dem Sauerstoffdruck einer vorhergehenden Temperung abhängen.

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