Über die Halbleitereigenschaften des Kupferoxyduls. IV Leitfähigkeitsmessungen bei hohen Temperaturen

An Kupferoxydulproben werden Leitfähigkeitsmessungen innerhalb des Existenzgebietes vorgenommen. Es wird festgestellt, daß die früher gefundene Gesetzmäßigkeit\documentclass{article}\pagestyle{empty}\begin{document}$$ x \sim p^{1/7}_{0_2} $$\end{document} nur bei Sauerstoffdrucken größer als etwa 10 −2 Torr gilt. Vermutlich ist die Ursache für die bei tiefen Drucken beobachtete Abweichung aut eine Art von Eigenleitung zurückzuführen, die bei höheren Drucken durch die Störstellenleitung verdeckt wird.