Digitale Spannungsoptik an einer Biegeprobe mit drehenden Hauptachsen

Diese Arbeit behandelt ein Phasenschiebeverfahren zum Messen der so genannten charakteristischen Parameter drei‐dimensionaler, spannungsoptischer Proben [1]. In der Regel drehen die sekundären Hauptspannungen in räumlichen Proben längs des Lichtweges, etwa in der Dickenrichtung x 2 einer Kragbalkenprobe mit schräg zur Balkenachse wirkenden Zugeigenspannungen, Bild 1. Dabei fallen die charakteristischen Richtungen ξ α und ξ φ , Bild 2, in der Regel nicht mit den Hauptrichtungen der Einfallsebene x 2 = — h/2 beziehungsweise der Ausfallsebene x 2 = h/2 zusammen [1]. Auch die charakteristische Verzögerung δ weicht in der Regel vom Integral der Verzögerungsinkremente längs des Lichtweges ab. Die drei Meßgrößenfelder α, φ und δ einer Probe lassen sich Punkt für Punkt ermitteln. Zum leichteren Messen wird hier ein Phasenschiebeverfahren ausprobiert, das abweichend von den Arbeiten [2,3] mit einem Linearpolariskop und einfarbigen Licht auskommt. Wegen der fünf Unbekannten, die dabei in jedem Probenpunkt zu bestimmen sind, benötigt man mindestens fünf Aufnahmen unterschiedlicher Orientierungen der beiden Polarisatoren. Mit acht passend gewählten Polarisator‐Kombinationen erhält man jedoch einfachere Auswertegleichungen.