Open AccessRobustesse de MESFET SiC face aux décharges électrostatiques
Author(s) -
Tanguy Phulpin,
David Trémouilles,
Karine Isoird,
Patrick Austin,
M. Vellvehı́,
Xavier Perpinyà,
X. Jordà,
Javier León
Publication year - 2016
Publication title -
hal (le centre pour la communication scientifique directe)
Language(s) - French
Resource type - Conference proceedings
Subject(s) - mesfet , materials science , computer science , optoelectronics , electrical engineering , voltage , transistor , engineering , field effect transistor