Open AccessEtude par Microscopie à sonde de Kelvin (KPFM) des phénomènes d’injection et de stockage de charges électriques dans des couches minces de SiO2 contenant des inclusions métalliques de taille nanométrique
Author(s) -
C. Djaou,
Christina Villeneuve-Faure,
Laurent Boudou,
Kremena Makasheva,
G. Teyssèdre
Publication year - 2018
Publication title -
hal (le centre pour la communication scientifique directe)
Language(s) - French
Resource type - Conference proceedings
Subject(s) - chemistry , materials science , physics