Open AccessDétection et localisation de défauts des Wafers par des approches statistiques multivariées et calcul des contributions
Author(s) -
Baligh Mnassri,
Bouchra Ananou,
El Mostafa El Adel,
Mustapha Ouladsine,
Franck Gasnier
Publication year - 2008
Publication title -
hal (le centre pour la communication scientifique directe)
Language(s) - French
Resource type - Conference proceedings
Subject(s) - humanities , physics , political science , philosophy