IMPROVEMENT OF THE CRYSTALLINITY AND OPTICAL PARAMETERS OF ZnO FILM WITH ALUMINUM DOPING
Author(s) -
Saliha Ilıcan
Publication year - 2016
Publication title -
anadolu university journal of science and technology- a - applied sciences and engineering :
Language(s) - Turkish
Resource type - Journals
ISSN - 2146-0205
DOI - 10.18038/btda.45168
Subject(s) - physics , wurtzite crystal structure , materials science , nuclear chemistry , humanities , chemistry , art , optics , diffraction
Bu calismada, katkisiz ve aluminyum (Al) katkili (%1 ve %3) cinko oksit (ZnO) filmleri cam alttaslar uzerine spin kaplama teknigi ile sol jel metodu kullanilarak elde edilmistir. Filmlerin yapisal ve optik ozelliklerini incelemek icin sirasiyla, X-isinlari difraktometresi ve UV-vis spektrofotometresi kullanilmistir. Elde edilen filmler polikristal olup, hekzagonal wurtzite yapida ve (002) tercihli yonelimine sahiptirler. ZnO filminin kristal kalitesi, artan Al katkisi ile artmistir. Bu nedenle, en siddetli (002) piki %3 Al katkili ZnO filminde gozlenmistir. UV-vis spektrofotometresine gore, filmlerin gorunur bolgedeki ortalama transmittans ve reflektanslari, sirasiyla %76 ve %14 degerinden buyuktur. Elde edilen filmlerin Al katkisina bagli olarak absorpsiyon kenarlarini belirlemek icin farkli metotlar kullanilmistir. ZnO filminin optik bant araligi, ilk Al katkisi ile mavi bolgeye kaymis, ve daha sonra Al katki miktari arttirilinca, kirmizi bolgeye kaymistir. Kirilma indisi, sonum katsayisi ve dielektrik sabitleri gibi optik sabitler katkisiz ve Al katkili ZnO filmleri icin belirlenmistir. Filmlerin kirilma indisi dispersiyonu, single oscillator model kullanilarak analiz edilmistir. Elde edilen filmlerin osilator enerjisi ve dispersiyon enerjisi gibi dispersiyon parametreleri belirlenmistir
Accelerating Research
Robert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom
Address
John Eccles HouseRobert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom