Sılar Yöntemi ile Üretilen CuO Filmlerin Yapısal, Morfolojik ve Optik Özelliklerine İkili Katkılamanın (Zn, Li) Etkisi

Bu calismada katkisiz CuO ve farkli konsantrasyonlarda Li-katkili Li-ZnCuO filmler cam altliklar uzerine SILAR yontemi ile basarili bir sekilde buyutuldu. Uretilen bu filmler metalurjik mikroskop (MM), X-isini kirinimi (XRD) ve UV-Vis. spektroskopi ile karakterize edildi. MM sonuclari, CuO filmlerin morfolojisi uzerine Li-Zn ikili katkilama konsantrasyonunun onemli bir etkiye sahip oldugunu gosterdi. XRD verileri filmlerin nanoboyutta kristalize olduklarini ve kristallenme kalitesinin katki konsantrasyonuna bagli olarak degistigini aciga cikardi. Uv-Vis. analiz sonuclari, filmlerin hem optik bant araligi degerlerinde hem de gecirgenliklerinde katki konsantrasyonuna bagli olarak onemli farkliliklarin olustugunu ortaya koydu.