Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra | Zendy

М. С. Тиванов | Zendy

AI Assistant Blog Pricing

Home ZAIA Blog

Open Access

Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra

Author(s) -

М. С. Тиванов

Publication year - 2016

Publication title -

przegląd elektrotechniczny

Language(s) - English

Resource type - Journals

SCImago Journal Rank - 0.19

H-Index - 27

eISSN - 2449-9544

pISSN - 0033-2097

DOI - 10.15199/48.2016.09.23

Subject(s) - reflection (computer programming) , materials science , spectral line , optics , optoelectronics , analytical chemistry (journal) , chemistry , physics , computer science , environmental chemistry , astronomy , programming language

A method for determining the band gap value and the refractive index near the absorption edge from reflection spectra was tested for CdSxSe1-x films prepared using the screen-printing and sintering technique. Streszczenie: Przeanalizowano metodę wyznaczenia szerokości przerwy energetycznej i współczynnika załamania z pomiarów widma współczynnika odbicie warstw CdSxSe1-x otrzymanych metodami sitodruku i konsolidacji termicznej (sintering technique). (Wyznaczanie parametrów optycznych grubych warstw CdSxSe1-x z analizy widma odbicia).

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.

Having issues? You can contact us here

Accelerating Research