Diffraction des rayonnements. Par Jean Protas. Paris: Dunod Editeur, 1999. Pp. xiv + 308. Prix FF 235. ISBN 2 10 004144 4.

Ce nouveau livre qui vient de paraõÃtre se situe dans la ligne directe du ce leÁbre ouvrage d'Andre Guinier intitule TheÂorie et technique de la radiocristallographie, paru en 1964. Depuis, le champ de la cristallographie a progresse aÁ pas de geÂants, graÃce aux nouvelles sources de rayonnements synchrotroniques et sources de spallation pour neutrons d'une part, et graÃce au deÂveloppement de nouveaux deÂtecteurs d'autre part. Distribue sur onze chapitres ainsi que quatre annexes, l'auteur donne tout d'abord un apercËu treÁs vaste des pheÂnomeÁnes physiques qui interviennent lors de la diffraction sur des solides. Il pre sente les nombreuses me thodes de diffraction utiliseÂes en laboratoire ainsi que les sources de radiation synchrotronique. En partant d'un eÂchantillon cristallin caracte rise par son groupe d'espace, l'auteur montre quelles sont les proprie te s de son spectre de diffraction en fonction de la syme trie. Les diffe rentes meÂthodes de reÂsolution structurale sont eÂgalement preÂsenteÂes en incluant aussi les meÂthodes directes, incontournables pour la reÂsolution de la majeure partie des structures actuellement e tudieÂes. Les avantderniers chapitres preÂsentent brieÁvement la diffraction des e lectrons et des neutrons par les cristaux, tandis que le dernier chapitre est consacre aux apports reÂcents de la diffraction pour l'e tude preÂcise de la densite e lectronique dans les mateÂriaux organiques. Malgre ce vaste survol des aspects de la diffraction, on peut se demander si cet ouvrage donne bien une vision actuelle des aspects de la diffraction sur les solides. Au cours de cette dernieÁ re deÂcennie, des progreÁs remarquables ont e te faits dans le deÂveloppement de nouvelles sources aÁ rayons-X avec optique inteÂgreÂe ainsi que de nouveaux types de collimateurs et miroirs focalisants qui de livrent des ̄ux de photons s'approchant des systeÁmes avec anode tournante. On peut regretter qu'aucune mention de ces deÂveloppements n'apparaisse dans l'ouvrage de Jean Protas. La description des re tigraphes en plus des chambres de Weissenberg et preÂcession donne, me semble-t-il, un poids trop important aÁ des meÂthodes dont l'eÂquipement tend aÁ disparaõÃtre des catalogues des fournisseurs! Les de tecteurs aÁ plaques photosensibles (`image plate' en anglais, e trangement traduit dans l'ouvrage par `image plate'!) deÂveloppeÂs principalement pour la diffraction des cristaux de macromoleÂcules ont eÂgalement reÂvolutionne la mesure rapide de diagrammes de poudre sur synchrotron. Cette me thode permet en outre de reÂsoudre le probleÁme des orientations pre fe rentielles qui doivent eà tre systeÂmatiquement prises en consideÂration. Il est regrettable qu'aucune mention de ces deÂveloppements n'apparaisse dans l'ouvrage. La mesure d'intensite s et la re solution de structures cristallines aÁ partir de diagrammes de Laue obtenus par diffraction de neutrons ou par radiation synchrotronique meÂriteraient aussi d'eà tre deÂcrites dans un tel ouvrage. Par contre, on peut se demander si l'indexation, aÁ l'aide d'un abaque, du diagramme de poudre d'un cristal te tragonal, repris d'ailleurs de l'ouvrage de Guinier, doit eà tre encore mentionne dans un livre moderne de diffraction? La meÃme question se pose pour la preÂsentation des ineÂgalite s de Kasper. Pour les e tudiants qui se familiarisent pour la premieÁre fois avec l'espace reÂciproque, il est important qu'une preÂsentation claire et compleÁ te soit donneÂe d'embleÂe a®n de saisir immeÂdiatement les implications pour les pheÂnomeÁnes de diffraction. Malheureusement, l'introduction de ce concept s'e tend sur trois parties du livre, aÁ savoir les chapitres 4, 5 ainsi qu'un des appendices. Dans un autre registre, on peut se demander si ce qui est preÂsente comme loi de Friedel ne devrait pas eà tre cite comme approximation de Friedel? La qualite actuelle des mesures de diffraction fait que la dispersion anomale ne peut plus eà tre neÂgligeÂe. On observe meÃme des deÂviations de cette soi-disant loi pour beaucoup de cristaux centrosyme triques! L'absorption est un autre pheÂnomeÁne qui doit eà tre corrige pour une bonne mode lisation de la diffraction. L'e leÂgante meÂthode analytique de correction n'est pas preÂsenteÂe dans cet ouvrage ni celle de la meÂthode numeÂrique d'inteÂgration de Gauss? L'auteur se limite aÁ la seule me thode d'inteÂgration isome trique qui a pratiquement disparu des logiciels couramment utilise s. Dans le dernier chapitre, l'auteur a choisi d'illustrer les recherches actuelles en cristallographie en preÂsentant le domaine des densite s e lectroniques preÂcises. Bien que ce domaine soit treÁ s inte ressant, l'auteur ne mentionne pas les avances actuelles dans les recherches qui s'appuyent sur les sources de radiation synchrotronique et de neutrons. Citons par exemple les progreÁs impressionants dans la re solution de structures cristallines complexes par diffraction de poudres, la re solution des structures de macromoleÂcules ou l'e tude de processus en temps reÂel. En premieÁre page de cet ouvrage, l'eÂditeur Dunod invite directement le lecteur aÁ consulter les pages de son propre site Web a®n de deÂcouvrir les activiteÂs de cette maison. Au vu de la richesse remarquable des informations dans le domaine de la cristallographie et de la diffraction actuellement disponibles sur le Web, on peut raisonnablement s'attendre aÁ trouver aussi quelques adresses de re fe rence dans l'ouvrage de Jean Protas. Malheureusement le lecteur reste sur sa faim et ne trouve aucune indication sur ces nombreuses sources d'information, pourtant treÁ s preÂcieuses pour le novice ou pour celui qui deÂsire comple ter ou approfondir ses connaissances dans le domaine. Comme l'auteur l'indique lui-meÃme dans son introduction, cet ouvrage s'adresse aÁ des e tudiants de 2e et 3e cycle de formation en sciences. L'e tudiant qui utilisera cet ouvrage doit de jaÁ posseÂder certaines notions sur les structures cristallines ainsi que sur leur symeÂtrie. Les annexes du livre lui permettront de se remeÂmorer certains concepts de base a®n de poursuivre la lecture de l'ouvrage. Malgre ces quelques omissions, ce nouveau livre donne un large eÂventail des pheÂnomeÁnes et meÂthodes de diffraction. A ce titre, on peut le recommander aux eÂtudiants qui se speÂcialisent dans ce domaine. Ce volume trouve sa place dans les rayons de bibliotheÁques preÂsentant les ouvrages didactiques de base dans les sciences naturelles.