z-logo
open-access-imgOpen Access
Устойчивость к электронному облучению высоковольтных 4H-SiC диодов Шоттки в рабочем диапазоне температур
Author(s) -
А.А. Лебедев,
В.В. Козловский,
М.Е. Левинштейн,
Д.А. Малевский,
Р.А. Кузьмин
Publication year - 2022
Publication title -
fizika i tehnika poluprovodnikov
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 1726-7315
pISSN - 0015-3222
DOI - 10.21883/ftp.2022.08.53150.9891
Subject(s) - chemistry , materials science

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here