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Untersuchung von Grenzflächen in Chalkopyrit‐Dünnschichtsolarzellen
Author(s) -
Lauermann Iver
Publication year - 2011
Publication title -
vakuum in forschung und praxis
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.213
H-Index - 13
eISSN - 1522-2454
pISSN - 0947-076X
DOI - 10.1002/vipr.201100452
Subject(s) - physics , humanities , philosophy
Abstract Anhand von zwei Beispielen aus der aktuellen Forschung im Bereich Solarenergieforschung am Helmholtz‐Zentrum Berlin für Materialien und Energie (HZB) wird gezeigt, wie Synchrotronstrahlung zur Analyse von Grenzflächenreaktionen in Dünnschichtsolarzellen eingesetzt werden kann und somit zum Verständnis ihrer Funktionsweise beiträgt. Erst mit diesem Wissen können Dünnschichtsolarzellen im Hinblick auf Wirkungsgrad und Stabilität verbessert werden. Dargestellt wird der Einsatz der Röntgenemissionsspektroskopie zum Nachweis der Oxidation von Sulfid zu Sulfat an der Grenzfläche zwischen Chalkopyrit‐Solarzellenabsorbern und Zinkoxid‐Fensterschicht. Im zweiten Beispiel wird gezeigt, wie Hochenergie‐Röntgenphotoelektronenspektroskopie eingesetzt wird, um die Diffusion von Kupfer aus einem Chalkopyrit‐Absorber in eine Indiumsulfid‐Pufferschicht in‐situ zu verfolgen.