Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO 2 ‐Basis

Es wird eine Methode zur Hochtemperaturdiffraktometrie (bis 1300 °C) monokliner Pulvermaterialien auf ZrO 2 ‐Basis beschrieben. Beispiele werden angeführt. Besondere Aufmerksamkeit gilt der Genauigkeit der Indizierung der Debye–Scherrer‐Aufnahmen und der Abschätzung der Fehler bei der Bestimmung der Parameter nach einer vereinfachten Methode. Die Bedingungen für die Hochtemperaturdiffraktometrie tetragonaler und kubischer Materialien auf ZrO 2 ‐Basis werden erörtert.