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電子機器の設計 において,不 要電磁放射(EMI)が 小 さく 外来ノイズに対す る耐性(イ ミュニティ)が 高いことが重 要であ り,こ の両者を実現するEMC設 計を目指 した取 り 組みが多 くなされている。 このEMC特 性を半導体デバイス の レベルにまで さかのぼって定量化する測定法の国際規格 化がIEC(International Electrotechnical Commission)で 検討 されている。集積回路委員会 に設 けられた ワーキ ンググ ループ(SC47A/WG9)で,半 導体のエ ミッション規格(IEC 61967シ リーズ)と イ ミュニティ規格(IEC62132シ リーズ) が審議中である1)~4)。 この半導体EMC規 格の目的はあ くまで 「測定方法 の規 格」を提供す ることであり,「規格値は規定 しない」 こと になっている3),5)0これは,要 求としての規格値自体は適用 分野やデバイスの種類,地 域 ・国によってさまざまであり, それに応 じて別に規定されるべきとの考えからである。 本稿ではこの2つ のシリーズ規格の概要 について解説す る。 さ らに国内での対応 として,電 子情報技術産業協会 (JEITA)の 半導体EMC測 定方法-PG(プ ロジェク トグルー プ)の 対応について も述べる。 なお これ らの規格は 「半導体デバ イス」のEMC特 性規 格ではあるが,昨 今の機器類の小型化と半導体デバイスの 大規模化 ・システム化から,電 子機器 ・システムとデバイ スの境界はかな りあいまいになってきている。実際,情 報 処理装置等電波障害 自主規制協議会(VCCI)で は,機 器類 に 内蔵あるいは増設される形で使用 されるボー ドやモジュー ル類のEMC特 性を規制するための検討が開始されており, 本規格はその規制化のための測定法として有力視されてい る。

Measurement Methods of Electromagnetic Emission and Immunity of Semiconductor Devices