English (United Kingdom)

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/featured_content/oa?rat=en

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/highlighted_journal/

Global: Zendy Plus annual

Presents the access of premium content as premium feature

Premium Content

Presents the keyphrase highlighting as premium feature

Keyphrase Highlighting

Presents the summarisation as premium feature

Summarisation

Insights

Presents the pdf analysis as premium feature

PDF Analysis

Presents the zaia usage as premium feature

ZAIA

Global: Zendy Plus monthly

Global: Zendy Tools annual

Global: Zendy Tools monthly

Global: Zendy Free Plan

#5 / 59 / 2015 #5 / 59 / 2015 позволяя формировать металлические области с размером от 10 нм. В.Га в р и л е н к о, А.З а б ло ц к и й, А.Ку з и н, B.Митюхляев, П.Тодуа и М.Филиппов из ОАО "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (Москва), Московского физико-технического института (Долгопрудный) и Института общей и неорганической химии им. Н.С.Курнакова (Москва) разработали меры для калибровки растровых электронных микроскопов в диапазоне увеличений от х10 до х100К с учетом требований стандарта ASTM E76698 (2008). Мера представляет собой совокупность рельефных шаговых структур с номинальными значениями шага от 0,6 мкм до 4 мм на поверхности кремниевой монокристаллической пластины размером 10 × 10 мм2. Значение шага определяется как расстояние между центрами рельефных элементов. Рельефные структуры сформированы с применением электронной литографии и образованы полосками субмикронной высоты для значений шага в диапазоне от 180 мкм до 4 мм и канавками трапецеидальной или треугольной формы для значений шага 80 мкм и менее. Расположение рельефных элементов позволяет проводить калибровку увеличения по осям X и Y по одному кадру. Для аттестации значений шага меры разработана методика, основанная на использовании керамической концевой меры длины фирмы Mitutoyo номинальным размером 4 мм и вспомогательной многоэлементной шаговой структуры. Методика реализуется с использованием растрового электронного микроскопа автоэмиссионного типа, который в режиме компарирования методом "деления" осуществляет переход от длины 4 мм к размерам до 2 мкм. При аттестации структур меры пределы допускаемых отклонений от паспортных значений составили 0,15 % в диапазоне значений шага от 3 до 4000 мкм и 5 нм для значений шага менее 3 мкм. В.Гелевер, Е.Усачев и А.Манушкин из Московского государственного технического университета радиотехники, электроники и автоматики сообщили о режимах работы гибридного наноскопа (ГН) – прибора экономкласса для проведения комплексных исследований поверхности и структуры объектов на микрои наноуровне. ГН имеет модульное построение, что позволяет сочетать основные типы систем микроскопии, а также спектроскопические детекторы. По принципиальной конструкции – это РЭМ, адаптированный для работы в рентгеновском режиме. Основной элемент конструкции в настольном варианте электронно-зонНовое в исследоваНиях НаНоструктур и НаНоматериалов методами электроННой и зоНдовой микроскопии New iN studies of NaNostructures aNd NaNomaterials usiNg electroN aNd scaNNiNg probe microscopy

New in studies of nanostructures and nanomaterials using electron and scanning probe microscopy