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Este trabalho e um estudo comparativo de analise de aco de baixa liga empregando duas tecnicas de mesmo fundamento basico (excitacao de eletrons e emissao de fotons caracteristicos), mas que utilizam fontes de excitacao diferentes. As tecnicas empregadas foram a espectrometria de emissao atomica com fonte de plasma indutivamente acoplado (ICP-AES) e a tecnica de espectrometria de emissao otica com fonte de centelha (Spark- AES).Um estudo estatistico comparou a precisao e a exatidao das tecnicas. Os outros parâmetros utilizados na comparacao das tecnicas foram: a geometria da amostra (sua forma), tipo de amostra, tempos de preparacao e analise e fator de recuperacao.

revista eletrônica teccen

Estudo Comparativo da Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Plasma Indutivamente Acoplado com a Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Centelha para Análise Quantitativa de Aço