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Um microscópio de varredura de tunelamento (STM) é um instrumento que possibilita obter imagens com resolução atômica e funciona através de uma corrente de tunelamento que flui da ponta para a superfície de amostras condutoras ou semicondutoras. A resolução da imagem obtida está diretamente relacionada a geometria da ponta utilizada. Existem diversas técnicas documentadas que podem ser utilizadas na obtenção de uma ponta para STM. No entanto, é preciso estabelecer qual delas resulta nos parâmetros desejados. O perfil da ponta é especialmente importante no estudo de amostras com grande relevo, como as do projeto no qual este está inserido, que pretende estudar a luminescência de semicondutores nanoestruturados. Os objetivos consistiram em realizar uma ampla revisão da bibliografia, conhecer o perfil da ponta que se deseja obter e, com isso, definir a melhor estratégia. Conceber e construir um protótipo para o sistema de preparação de pontas de acordo com a técnica estabelecida. E, por fim, testar o sistema, bem como as pontas obtidas por ele.

Desenvolvimento de um dispositivo para fabricação de pontas de tungstênio para STM