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A difracao de raios X (XRD) e uma poderosa tecnica nao destrutiva de caracterizacao de materiais cristalinos. Ela fornece informacoes a respeito das estruturas, das fases, da orientacao dos cristais em uma amostra, alem de outros parâmetros estruturais, como tamanho medio de grao, cristalinidade, tensao e defeitos do cristal. Os picos de difracao de raios X sao produzidos pela interferencia construtiva de um feixe monocromatico de raios X espalhados em ângulos especificos, a partir do conjunto de planos atomicos em uma dada rede cristalina na amostra. O padrao de difracao de raios X obtido (difratograma) e a impressao digital dos arranjos atomicos periodicos em um determinado material. Este artigo abordara um resumo sobre a tecnica de difracao de raios X, a instrumentacao utilizada, a preparacao de amostras e algumas aplicacoes industriais atuais, relacionadas as areas de farmacos, aplicacoes geologicas, microeletronica e analise de corrosao.

A Difração de Raios X: uma Técnica de Investigação da Estrutura Cristalina de Materiais