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Das Erkennen und Klassifizieren von Fehlern ist eine wichtige Aufgabe der optischen zerstörungsfreien Materialprüfung in der industriellen Qualitätskontrolle. Eine Vielzahl von Daten über Fehler im Material sind in interferometrischen Streifenmustern enthalten. Diese Daten müssen für die weitere Auswertung reduziert werden. Eine Möglichkeit der Datenreduktion ist durch die Wavelet-Transformation gegeben. Fehler in interferometrischen Streifenmustern sollen durch Wavelet-Filter erkannt, lokalisiert und klassifiziert werden. Wavelet-Funktionen sind sowohl im Ortsraum als auch im Frequenzraum lokalisiert und eignen sich deshalb zur Extraktion von Merkmalen ohne Verlust der räumlichen Zuordnung. Eine Klassifizierung der Interferogramme ist möglich, da die Fehlerklassen charakteristische Eigenschaften haben, die mit bestimmten Klassen von Wavelet-Filtern erkannt werden können.

tm - technisches messen

Optische Verarbeitung von interferometrischen Streifenbildern und die Fehlererkennung durch Wavelet-Filterung (Optical Processing of Interferometric Fringes and Detection of Faults by Wavelet Filtering)