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Es wird ein neues Verfahren zur beleuchtungsgestützten Segmentierung strukturierter Oberflächen vorgestellt. Als Grundlage dient eine Beleuchtungsserie, d.h. eine Folge von Bildern, die mit gerichtetem Licht aus verschiedenen Richtungen aufgenommen wurden. Daraus wird für jeden Ort der Oberfläche ein Signal extrahiert, welches die Intensität des zugehörigen Bildpunktes als Funktion des Beleuchtungswinkels beschreibt. Aus diesem Signal werden dann Merkmale gewonnen, die eine punktweise Segmentierung der Oberfläche erlauben. Mit Hilfe geeigneter Modelle lässt sich das Reflexionsverhalten der Oberfläche beschreiben sowie die zugehörigen Modellparameter aus dem Intensitätssignal schätzen. Ferner wird der Einfluss der Abtastung des Beleuchtungsraumes auf die Segmentierung untersucht. Einerseits ist es wünschenswert, die Zahl der Beleuchtungswinkel möglichst klein zu halten. Andererseits wird eine Mindestanzahl von Bildern benötigt, um ein zuverlässiges Ergebnis zu erzielen. Die Leistungsfähigkeit des Ansatzes wird anhand realer Messungen demonstriert. Dabei zeigt sich, dass der größere messtechnische Aufwand durch eine deutliche Erhöhung der Ortsauflösung und der Robustheit kompensiert wird.

Segmentierung strukturierter Oberflächen mittels variabler Beleuchtung (Segmentation of Structured Surfaces by Using Variable Illumination)