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Dieser Beitrag diskutiert die derzeitigen Grenzen der Vergleichbarkeit von Ergebnissen gestrahlter EMV-Störfestigkeitsprüfungen. Es wird ein genereller Ansatz vorgestellt, mit dem sich die Rückwirkung der Prüfumgebung auf das Prüfobjekt und damit die Prüfschärfe erfassen lässt. Messergebnisse zeigen den Einfluss auf die Messunsicherheit.

technisches messen/tm. technisches messen

Ein semi-analytisches Verfahren zur Bestimmung der Prüfschärfe bei EMV-Störfestigkeitsmessungen (A Semi-analytical Method for the Determination of the Severity of Tests in Measurements of the Immunity to Electromagnetic Interferences (EMC))