English (United Kingdom)

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/featured_content/oa?rat=en

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/highlighted_journal/

Zendy Plus

Presents the access of premium content as premium feature

Premium Content

Presents the keyphrase highlighting as premium feature

Keyphrase Highlighting

Presents the summarisation as premium feature

Summarisation

Insights

Presents the pdf analysis as premium feature

PDF Analysis

Presents the zaia usage as premium feature

ZAIA

Zendy Tools

Zendy Open

Dieser Beitrag diskutiert die derzeitigen Grenzen der Vergleichbarkeit von Ergebnissen gestrahlter EMV-Störfestigkeitsprüfungen. Es wird ein genereller Ansatz vorgestellt, mit dem sich die Rückwirkung der Prüfumgebung auf das Prüfobjekt und damit die Prüfschärfe erfassen lässt. Messergebnisse zeigen den Einfluss auf die Messunsicherheit.

technisches messen/tm. technisches messen

Ein semi-analytisches Verfahren zur Bestimmung der Prüfschärfe bei EMV-Störfestigkeitsmessungen (A Semi-analytical Method for the Determination of the Severity of Tests in Measurements of the Immunity to Electromagnetic Interferences (EMC))