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Wir präsentieren Untersuchungen zur Feldverteilung in der Umgebung von Sub-λ-Strukturen. Das Auftreten von Singularitäten in der Phasenverteilung des reflektierten Feldes wird theoretisch und experimentell in Hinsicht auf die Möglichkeit der lateralen Überauflösung untersucht. Ein theoretisches Modell für die Berechnungen des elektrischen Feldes, welches auf dem Greenfunktion-Formalismus basiert, wird diskutiert. Messungen an zweidimensionalen Objekten wurden mit Hilfe eines Linnik-Interferenz-Mikroskopes durchgeführt.

technisches messen/tm. technisches messen

Untersuchung von Phasensingularitäten in der Umgebung kleiner Strukturen mit einem Linnik-Interferenzmikroskop (Investigation of Phase Singularities in the Vicinity of Small Structures Using a Linnik Interference Microscope)