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Die Messaufgabe der In-process-Charakterisierung von Rauheiten technischer Oberflächen ist nach wie vor unzureichend gelöst. Konventionelle, profilometrische Messverfahren ermöglichen bestenfalls eine In-situ-Bestimmung von Oberflächenrauheiten, d.h. am ruhenden Objekt. Im Gegensatz dazu besitzen Laserstreulichtverfahren die Möglichkeit des In-process-Einsatzes. Im vorliegenden Beitrag werden neue Ansätze parametrisch optischer Messverfahren zur Charakterisierung sehr glatter Oberflächen ( Ra  ≤ 0,15 μm) sowie zur Beurteilung von Material-Ermüdungszuständen infolge zyklischer Beanspruchung vorgestellt.

technisches messen/tm. technisches messen

In-process-Charakterisierung von Oberflächen-Mikrotopographien mittels Specklekorrelations-Verfahren (In-process Characterization of Surface Microtopographies Using Speckle Correlation Methods)