English (United Kingdom)

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/featured_content/oa?rat=en

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/highlighted_journal/

Global: Zendy Plus annual

Presents the access of premium content as premium feature

Premium Content

Presents the keyphrase highlighting as premium feature

Keyphrase Highlighting

Presents the summarisation as premium feature

Summarisation

Insights

Presents the pdf analysis as premium feature

PDF Analysis

Presents the zaia usage as premium feature

ZAIA

Global: Zendy Plus monthly

Global: Zendy Tools annual

Global: Zendy Tools monthly

Global: Zendy Free Plan

Die Messaufgabe der In-process-Charakterisierung von Rauheiten technischer Oberflächen ist nach wie vor unzureichend gelöst. Konventionelle, profilometrische Messverfahren ermöglichen bestenfalls eine In-situ-Bestimmung von Oberflächenrauheiten, d.h. am ruhenden Objekt. Im Gegensatz dazu besitzen Laserstreulichtverfahren die Möglichkeit des In-process-Einsatzes. Im vorliegenden Beitrag werden neue Ansätze parametrisch optischer Messverfahren zur Charakterisierung sehr glatter Oberflächen ( Ra  ≤ 0,15 μm) sowie zur Beurteilung von Material-Ermüdungszuständen infolge zyklischer Beanspruchung vorgestellt.

technisches messen/tm. technisches messen

In-process-Charakterisierung von Oberflächen-Mikrotopographien mittels Specklekorrelations-Verfahren (In-process Characterization of Surface Microtopographies Using Speckle Correlation Methods)