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Einund Mehrfehlerkorrektur zur Verbesserung der SpeicherZuverlässigkeit werden erläutert. An einem Modell, das die periphere Elektronik berücksichtigt und das bei den Speicherbausteinen die vier Ausfallkategorien Einzelzellen-, Spalten-, Zeilenund Totalausfälle unterscheidet, wird die Ausfallwahrscheinlichkeit eines Speichermoduls berechnet. Die durch Fehlerreduktionsfaktoren erfaßbare Wirkung der Teilausfälle verlängert — gegenüber Totalausfällen — die berechnete Zeit bis zum Erreichen einer vorgegebenen Modul-Ausfallwahrscheinlichkeit beispielsweise auf das Zweibis Dreifache. Für die Berechnung muß die relative Häufigkeit der wesentlichen Ausfallkategorien bekannt sein.

Die Ausfallwahrscheinlichkeit von Speichermodulen mit Fehlerkorrektur/The failure probability of memory modules with error correction